闩锁效应（Latch-up）存在于体CMOS集成电路中，它一直是CMOS集成电路可靠性的一个潜在的严重问题，随着CMOS工艺技术的不断发展，工艺技术日趋先进，集成电路器件的特征尺寸越来越小，并且器件间的间距也越来越小，器件密度越来越大，集成电路的闩锁效应变得越来越严重，特别是在IO（输入、输出和输入/输出）电路中。
本章着重介绍闩锁效应出现的背景和概况。
