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电子组装工艺可靠性

王文利 闫焉服编著

工业技术/电子通信· 14.2万字

更新时间:2018-12-27 16:34:32

最新章节:10.5 QFN封装器件的可靠性返修
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本书针对电子行业越来越关注的产品工艺可靠性问题,系统阐述了电子工艺可靠性的基础、主要失效形式、失效机理、可靠性设计与仿真分析、可靠性实验、电子产品失效分析技术以及专项工艺可靠性问题,如无铅导入后的无铅可靠性问题及BGA器件与QFN器件应用的可靠性问题等,简要介绍了IPC-D-279:表面组装可靠性设计指南的主要内容。
上架时间:2011-06-01 00:00:00
出版社:电子工业出版社
上海阅文信息技术有限公司已经获得合法授权,并进行制作发行
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